西門(mén)子6RA7075上電炸機(jī)故障修復(fù)  王工

西門(mén)子6RA70運(yùn)行不穩(wěn)定維修,對(duì)于電源不穩(wěn)定和頻繁制動(dòng)的場(chǎng)合，可能會(huì)發(fā)生逆變，導(dǎo)致熔斷器或整流裝置的損壞，為了避免逆變?cè)斐傻牟涣加绊懀蛇x用SIMOREGCCP(整流器換相保護(hù)裝置)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行保護(hù)，因此6RA70從版本V2.12開(kāi)始增加了換相監(jiān)控功能和過(guò)電流監(jiān)控功能，這樣逆變將被快速檢測(cè)到并向SIMOREGCCP發(fā)送指令，以關(guān)斷其內(nèi)部電力電子器件。

故障F030作為換相以及過(guò)電流監(jiān)控，觸發(fā)此故障后建議客戶(hù)按照以下流程進(jìn)行處理：

1. 應(yīng)首先檢測(cè)電流環(huán)的優(yōu)化情況，必要時(shí)對(duì)電流環(huán)進(jìn)行重新優(yōu)化。

2. 確認(rèn)故障值。

3. 若故障值為1或2時(shí)，可能的原因?yàn)椋?/span>

3.1 電源不穩(wěn)定，電壓波動(dòng)大，諧波干擾大，建議改善電源質(zhì)量，增加輸入電抗器等；

3.2 自動(dòng)換相參數(shù)不合適，可適當(dāng)增大參數(shù)P179，P161，P160等。 注：6RA70四象限裝置的自動(dòng)換向是由邏輯無(wú)環(huán)流控制與電流調(diào)節(jié)回路來(lái)共同完成的。當(dāng)一組晶閘管工作時(shí)，用邏輯電路另一組晶閘管的觸發(fā)脈沖，使它完于阻斷狀態(tài)，確保兩組晶閘管不同時(shí)工作，從而切斷了環(huán)流的通路，這就是邏輯控制無(wú)環(huán)流系統(tǒng)。電流給定值連接器K119通過(guò)轉(zhuǎn)換閥值P159后形成轉(zhuǎn)矩選擇信號(hào)K106，等待檢測(cè)到零電流信號(hào)后就滿(mǎn)足了改變轉(zhuǎn)矩方向的前提條件，為了確保系統(tǒng)的可靠工作還必須經(jīng)過(guò)三段延時(shí)時(shí)間。當(dāng)電流降低到零附近時(shí)，其所含的脈動(dòng)分量是時(shí)高時(shí)低的，如果檢測(cè)到電流的瞬時(shí)值為零就組，由于本組正工作在逆變狀態(tài)，可能會(huì)造成逆變失敗。當(dāng)檢測(cè)到零電流信號(hào)后，本組再釋放幾個(gè)在參數(shù)P179中設(shè)置的釋放逆變脈沖數(shù)，等電流真正為零后，再本組脈沖。這段時(shí)間可以稱(chēng)為延時(shí)。在原工作組脈沖后，已被觸發(fā)的晶閘管要到電流過(guò)零時(shí)才能真正關(guān)斷，在關(guān)斷之后還要過(guò)一段時(shí)間才能恢復(fù)阻斷能力，如果不經(jīng)過(guò)開(kāi)放延時(shí)可能會(huì)使兩組晶閘管同時(shí)導(dǎo)通。本組再幾個(gè)中設(shè)置的封在參數(shù)P161鎖逆變脈沖數(shù)，本組真正阻斷后，再釋放另外一組脈沖。這段時(shí)間可以稱(chēng)為釋放延時(shí)。通過(guò)參數(shù)P160可以設(shè)置附加的無(wú)轉(zhuǎn)矩時(shí)間間隔。

3.3 西門(mén)子不推薦禁止換相監(jiān)控功能，推薦使用以上等方法進(jìn)行處理，但對(duì)于應(yīng)急應(yīng)用，如有必要可設(shè)置參數(shù)U580=4，提醒客戶(hù)慎用此處理辦法以免造成裝置的損壞。

4. 若故障值為3時(shí)，可能的原因?yàn)椋?/span>

4.1 與觸發(fā)故障值為1或2的原因相同，處理方法也相同。

4.2 檢查負(fù)載是否過(guò)大。

4.3 檢查電機(jī)絕緣以及接地是否正常。

4.4 檢查測(cè)速機(jī)或編碼器反饋信號(hào)是否正常，合理設(shè)置參數(shù)P200進(jìn)行濾波。

4.5 確認(rèn)優(yōu)化后速度調(diào)節(jié)器的特性是否過(guò)硬，合理設(shè)置參數(shù)P225以及P226。

4.6 檢查裝置是否有硬件故障，可更換CUD1控制板，可設(shè)置參數(shù)P830=3進(jìn)行晶閘管診斷等。

導(dǎo)致故障F030的原因眾多，如電源質(zhì)量問(wèn)題，參數(shù)設(shè)置問(wèn)題，電機(jī)絕緣問(wèn)題，裝置硬件問(wèn)題等等，所以處理較為困難，針對(duì)具體問(wèn)題應(yīng)具體分析，以上提及的處理方法只是對(duì)以往處理經(jīng)驗(yàn)的一些總結(jié)，僅供參考。 

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